加速寿命试验(ALT)是一种在合理工程及统计假设的基础上,利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的可靠性信息进行转换,得到试件在额定应力水平下可靠性特征的可复现的数值估计的一种试验方法。其目的是在短时间内预测出产品在正常应力下的寿命特征,而不是暴露产品的缺陷。常用的加速应力包括热应力、电应力、湿应力、化学环境、机械应力和辐射等。
目的是在短时间内即可进行产品的失效原因分析,可在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。 加速寿命试验通常分为恒定应力试验、步进应力试验和序进应力试验。
GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则
GB/T 36361-2018 LED加速寿命试验方法
GB/T 29309-2012 电工电子产品加速应力试验规程 高加速寿命试验导则
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