X射线荧光光谱仪测试

X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。

1、涂层成分和厚度分析 

X射线荧光光谱仪可以准确检测多层，即多层合金的厚度和成分、上下元素的重复镀层、轻元素和有机物的镀层和渗透层。 

 2、环境检测解决方案  

X射线荧光光谱仪可以检测多种重金属和有害元素，检测的检出限可以达到1ppm以下。  

3、全要素分析 

X射线荧光光谱仪可以分析各种合金、矿石、土壤、珠宝等的元素组成，可以检测各种常见的贵金属和稀土。适用于广泛的行业，无论是电镀、5G通讯、新能源、五金建材、半导体、地矿、珠宝、汽车，还是高精密电子、芯片、航空航天等行业。

GB/T 41497-2022 钒铁 钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 

 GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化学分析方法 第11部分：氧化钙、氧化镁、二氧化硅、氧化铝及氧化铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法) 

 GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 

 GB/T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量 

GB/T 5687.13-2021 铬铁 铬、硅、锰、钛、钒和铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)

 GB/T 40312-2021 磷铁 磷、硅、锰和钛含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法) 

 GB/T 40311-2021 钒渣 多元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法) 

 GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染 

 GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴 

GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法 第22部分：锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

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