扫描电镜 分析介绍
扫描电镜分析(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种应用广泛的电子显微镜技术,用于观察和分析材料的表面和微观结构。扫描电镜的分辨率高,景深长,能够呈现出样品的真实形貌和表面特征,因此在材料科学、生物学、医学、地质学等领域得到了广泛应用。中科检测开展扫描电镜分析服务,具备CMA、CNAS资质认证。
扫描电镜 分析范围
在石油、地质、矿物领域,电子、半导体领域,医学、生物学领域,化工、高分子材料领域,公安刑侦工作领域,以及农、林业等方面。
扫描电镜 分析特点
1能够直接观察样品表面的微观结构,样品制备过程简单,对样品的形状没有任何限制,粗糙表面也可以直接观察;
2样品在样品室中可动的自由度非常大,可以作三度空间的平移和旋转,这对观察不规则形状样品的各个区域细节带来了方便;
3图象富有立体感。扫描电镜的景深是光学显微镜的数百倍,是透射电镜的数十倍,故所得到的图象立体感比较强;
4放大倍数范围大,从几倍到几十万倍连续可调。分辨率也比较高,介于光学显微镜和透射电镜之间;
5电子束对样品的损伤与污染程度小。由于扫描电镜电子束束流小,且不是固定一点照射样品表面,而是以光栅扫描方式照射样品,所以对样品的损伤与污染程度比较小;
6在观察样品微观形貌的同时,还可以利用从样品发出的其它物理信号作相应的分析,如微区成分分析。如果在样品室内安装加热、冷却、弯曲、拉伸等附件,则可以观察相变、断裂等动态的变化过程。
服务优势
1.拥有众多先进仪器设备并通过CMA/CNAS资质认可,测试数据准确可靠,检测报告具有国际公信力。
2.科学的实验室信息管理系统,保障每个服务环节的高效运转。
3.技术专家团队实践经验丰富,可提供专业、迅速、全面的一站式服务。
4.服务网络遍布全球,众多一线品牌指定合作实验室。
报告用途
产品质控:国内外市场销售,资质认证等等;
电商品控:产品进入超市或卖场,网站商城等;
贸易活动:政府部门、事业单位招投标、申请补助等;
工厂评估:工商抽检或市场监督等;