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温度冲击试验 项目介绍
温度冲击试验，也被称为冷热冲击试验或高低温冲击试验，是一种评估产品或材料在温度急剧变化下的适应能力的试验方法。在产品研发和生产过程中，这种试验常用于验证产品的设计和工艺的缺陷，以及评估产品对温度冲击环境的适应性。
温度冲击 试验范围
电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA；
电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、医疗器械；
计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等；
道路交通类：道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等；
其他：包装箱、运输设备等。
温度冲击 试验标准
IEC 60068-2-14：2009《环境试验第2~14部分：试验方法试验N：温度变化》
GB/T 2423.22-2012《环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化》
MIL-STD-810F 方法503.4：温度冲击试验
GJB 150.5A-2009 《军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验》
MIL-STD-202G 方法107G：热冲击试验
GJB 360B-2009 《电子及电气元件试验方法》中的方法107温度冲击试验
MIL-STD-883, Method 1010, Temperature Cycling
JESD22-A104D, Temperature Cycling
JIS C 680068-2-14:2011（替代JIS C0025:1988）
服务优势
1.拥有众多先进仪器设备并通过CMA/CNAS资质认可，测试数据准确可靠，检测报告具有国际公信力。
2.科学的实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效运转。
3.技术专家团队实践经验丰富，可提供专业、迅速、全面的一站式服务。
4.服务网络遍布全球，众多一线品牌指定合作实验室。
报告用途
销售：出具检测报告，提成产品竞争力；
研发：缩短研发周期，降低研发成本；
质量：判定原料质量，减少生产风险；
诊断：找出问题根源，改善产品质量；
科研：定制完整方案，提供原始数据；
竞标：报告认可度高，提高竞标成功率；
